美國DIATEST孔徑測(cè)量?jī)x C3-AL用于測(cè)量?jī)?nèi)徑和外徑精度為 ± 2 μm

一，產(chǎn)品介紹美國DIATESTDIA-COME

美國DIATEST用于測(cè)量?jī)?nèi)徑和外徑的靈活且堅(jiān)固的測(cè)量臺(tái)

美國DIATEST DIA-COME 測(cè)量臺(tái)有不同的尺寸、布局和測(cè)量范圍。它們通常在生產(chǎn)機(jī)器附近使用，例如用于樣品測(cè)量。

美國DIATEST DIA-COME C2 測(cè)量臺(tái)有 3 種尺寸可供選擇。它們有一個(gè)固定的和一個(gè)移動(dòng)的測(cè)量觸點(diǎn)。動(dòng)觸頭的測(cè)量范圍為 20 mm。C2 表涵蓋不同的測(cè)量范圍：

內(nèi)徑 30 – 275 毫米

外徑從 0 – 245 毫米

內(nèi)齒輪規(guī)Mi = 70 – 275 mm

外齒輪規(guī)Ma = 0 – 245 mm

美國DIATEST DIA-COME C3 測(cè)量臺(tái)有 4 種尺寸可供選擇。它們有兩個(gè)固定的和一個(gè)移動(dòng)的測(cè)量觸點(diǎn)。動(dòng)觸頭的測(cè)量范圍為 20 mm。C3 表涵蓋不同的測(cè)量范圍：

內(nèi)徑 35 – 450 毫米

外徑 0 – 420 毫米

為了不扭曲或損壞工件，可以連續(xù)調(diào)整測(cè)量力。測(cè)量精度為 ± 2 μm。

額外的應(yīng)用套件 (Kits) 為最常見的測(cè)量任務(wù)提供解決方案，例如用于 11.5 mm ID 的小直徑、平底、球砧或凹槽。由于配件種類繁多，可以檢查許多不同的測(cè)量任務(wù)（例如內(nèi)、外凹槽、同心度或錐度）?？筛鶕?jù)要求提供特殊測(cè)量插件。

可以使用機(jī)械或數(shù)字指示器，也可以使用感應(yīng)式和增量式探頭、PC、DIATRON 或打印機(jī)。通過使用適當(dāng)?shù)闹甘酒?，測(cè)量值可以無線(DIAWIRELESS)傳輸?shù)絇C 或 DIATRON 。

調(diào)整標(biāo)準(zhǔn)或量塊可用于調(diào)整和調(diào)零。

DIA-COME 用于齒輪測(cè)量，請(qǐng)參閱齒輪測(cè)量。

美國DIATEST型號(hào)：

美國DIATEST 2-Point table C2

美國DIATEST 3-Point table C3-AL

美國DIATEST 3-Point table C3-JS

美國DIATEST孔徑測(cè)量?jī)x C3-AL用于測(cè)量?jī)?nèi)徑和外徑精度為 ± 2 μm

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